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品牌	其他品牌	产地类别	进口
应用领域	能源,电子,航天,电气,综合

美国Sumix MAX-QS+白光干涉仪测粗糙度光学3D表面轮廓测量仪

美国Sumix MAX-QS+干涉仪MAX-QS+ 是一款白光相移干涉仪，用于检测单光纤 ST、FC、SC、LC、MU、E2000™（PC 和 APC）、小尺寸多光纤 MT-RJ（PC 和 APC）、SMA 和特殊连接器。MAX-QS+ 具有便携式设计、自动对焦、100 微米光纤高度扫描范围和 1.1 微米分辨率。

该设备通过 USB 3.0 电缆和 12V 直流电源适配器连接到笔记本电脑或台式计算机。

Sumix MAX-QS+ 配备行业的 MaxInspect™ 软件，用于光纤连接器的干涉检测。

Sumix MAX-QS+干涉仪特征：

1：高分辨率 2D 和 3D 表面轮廓

探索小至 1.1 μm 的表面细节。

2：自动对焦

将操作员的操作降至很低，只需单击一下。

3：结合异常检测和几何测试

加快巡检速度，提高工作效率。

4：快速测量

在 2 秒或更短的时间内测量单个光纤连接器。

5：显微镜模式

在测量之前目视检查连接器端面。

6：行业的 MaxInspect™ 自动检测软件

测量曲率半径、顶点偏移、纤维高度等。

7：超过 1000 微米的光纤高度扫描范围

准确检测具有较大不连续性和特殊连接器的套圈表面。

8：数据库连接

将所有本地站点的测量数据存储在一个地方，并轻松地将 Sumix 设备集成到您的制造系统中

MAX-QS+干涉测量系统包括：

MAX-QS+干涉仪
用于设备验证的光学平面标准
USB 3.0 数据线
AC适配器
内六角扳手
箱
MaxInspect™ 软件许可证

Sumix MAX-QS+ 规格

系统

测量技术：非接触式;迈克尔逊干涉测量法

镜头：NA = 0.25;平坦度误差 < λ/50

照明灯：绿色 LED （530 nm）

视场角：1.1 × 0.9 毫米

横向分辨率：1.1微米

放大：500×（数码变焦已关闭）

重点：自动对焦和手动对焦

最大图像尺寸：2590 × 1940 像素

适合连接器/套圈（PC 和 APC）：SC、FC、ST、LC、MU、E2000™、SMA、MT-RJ

显微镜模式：是的

美国Sumix MAX-QS+白光干涉仪测粗糙度

美国Sumix MAX-QS+白光干涉仪测粗糙度

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